http://93.174.130.82/presidium/documents/directionsp.aspx?ID=2fc8685e-00b6-4fc6-8eaf-1186f cc7eb77&print=1
© 2024 Российская академия наук
РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК
ПРЕЗИДИУМ
РАСПОРЯЖЕНИЕ
О проведении комплексной проверки Федерального государственного бюджетного учреждения науки
Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук
1. Для проведения комплексной проверки научной, научно-организационной и финансово-хозяйственной деятельности Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук утвердить комиссию в следующем составе:
Шокин Ю.И. |
- |
академик, председатель |
Соколов И.А. |
- |
академик, заместитель председателя |
Попенко Н.В. |
- |
кандидат технических наук, Отдел нанотехнологий и информационных технологий РАН, секретарь |
Бирюкова И.В. |
- |
Юридический отдел РАН |
Власов С.А. |
- |
кандидат технических наук, Отдел нанотехнологий и информационных технологий РАН, член Комиссии по оценке результативности деятельности научных организаций Российской академии наук |
Голов Ю.В. |
- |
кандидат юридических наук, Управление безопасности, охраны труда и гражданской защиты РАН |
Кифальба Н.Э. |
- |
Управление земельно-имущественного комплекса РАН |
Летуновская Н.Б. |
- |
Финансово-экономическое управление РАН |
Маркианов С.С. |
- |
Управление внешних связей РАН |
Науширванова В.Ш. |
- |
Управление кадров РАН |
Подстригич Г.Б. |
- |
кандидат экономических наук, Управление внутреннего финансового контроля РАН |
Попков Ю.С. |
- |
член-корреспондент РАН |
Семыкина Г.И. |
- |
кандидат геолого-минералогических наук, Секретариат Президиума РАН |
Сойфер В.А. |
- |
член-корреспондент РАН |
Суворова Л.Н. |
- |
Научно-организационное управление РАН |
Хлопков В.В. |
- |
Управление безопасности, охраны труда и гражданской защиты РАН |
Шахнов В.А. |
- |
член-корреспондент РАН |
2. Провести комплексную проверку Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук с 26 по 28 декабря 2012 г.
3. Комиссии руководствоваться Методическими указаниями по проведению комплексных проверок научных организаций Российской академии наук.
4. Членам комиссии предварительно ознакомиться (при необходимости) с деятельностью Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук по интересующим их вопросам.
5. Расходы по командированию члена-корреспондента РАН Сойфера В.А. отнести за счет сметы Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института систем обработки изображений Российской академии наук, академика Шокина Ю.И. - за счет сметы Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института вычислительных технологий Сибирского отделения Российской академии наук.
6. Финансово-экономическому управлению РАН предусмотреть выделение средств Федеральному государственному бюджетному учреждению науки Институту систем обработки изображений Российской академии наук и Федеральному государственному бюджетному учреждению науки Институту вычислительных технологий Сибирского отделения Российской академии наук на оплату расходов по командированию члена-корреспондента РАН Сойфера В.А. и академика Шокина Ю.И. соответственно.
7. Комиссии представить Акт о проведении комплексной проверки Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук в Отделение нанотехнологий и информационных технологий РАН до 30 января 2013 г.
8. Контроль за выполнением пункта 2 настоящего распоряжения возложить на Отделение нанотехнологий и информационных технологий РАН.
И.о. президента
Российской академии наук
академик А.Д. Некипелов