http://93.174.130.82/presidium/documents/directionsp.aspx?ID=2fc8685e-00b6-4fc6-8eaf-1186f cc7eb77&print=1
© 2024 Российская академия наук

№ 11600-804 от 14.09.2012



РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК

ПРЕЗИДИУМ

РАСПОРЯЖЕНИЕ






О проведении комплексной про­верки Федерального государст­венного бюджетного учреждения науки
Института проблем проек­тирования в микроэлектронике Российской академии наук






1. Для проведения комплексной проверки научной, научно-организационной и финансово-хозяйственной деятельности Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института проблем проек­тирования в микроэлектронике Российской академии наук утвердить комис­сию в следующем составе:

Шокин Ю.И.

-

академик, председатель

Соколов И.А.

-

академик, заместитель председателя

Попенко Н.В.

-

кандидат технических наук, Отдел нанотехнологий и информационных технологий РАН, секретарь

Бирюкова И.В.

-

Юридический отдел РАН

Власов С.А.

-

кандидат технических наук, Отдел нанотехнологий и информационных технологий РАН, член Комиссии по оценке результативности деятельности научных организаций Россий­ской академии наук

Голов Ю.В.

-

кандидат юридических наук, Управление безопасности, охраны труда и гражданской защиты РАН

Кифальба Н.Э.

-

Управление земельно-имущественного ком­плекса РАН

Летуновская Н.Б.

-

Финансово-экономическое управление РАН

Маркианов С.С.

-

Управление внешних связей РАН

Науширванова В.Ш.

-

Управление кадров РАН

Подстригич Г.Б.

-

кандидат экономических наук, Управление внутреннего финансового контроля РАН

Попков Ю.С.

-

член-корреспондент РАН

Семыкина Г.И.

-

кандидат геолого-минералогических наук, Секретариат Президиума РАН

Сойфер В.А.

-

член-корреспондент РАН

Суворова Л.Н.

-

Научно-организационное управление РАН

Хлопков В.В.

-

Управление безопасности, охраны труда и гражданской защиты РАН

Шахнов В.А.

-

член-корреспондент РАН

2. Провести комплексную проверку Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук с 26 по 28 декабря 2012 г.

3. Комиссии руководствоваться Методическими указаниями по проведению комплексных проверок научных организаций Российской академии наук.

4. Членам комиссии предварительно ознакомиться (при необходимости) с деятельностью Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук по интересующим их вопросам.

5. Расходы по командированию члена-корреспондента РАН Сойфера В.А. отнести за счет сметы Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института систем обработки изображений Российской академии наук, академика Шокина Ю.И. - за счет сметы Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института вычислительных технологий Сибирского отделения Российской академии наук.

6. Финансово-экономическому управлению РАН предусмотреть выделение средств Федеральному государственному бюджетному учреждению науки Институту систем обработки изображений Российской академии наук и Федеральному государственному бюджетному учреждению науки Инсти­туту вычислительных технологий Сибирского отделения Российской ака­демии наук на оплату расходов по командированию члена-корреспондента РАН Сойфера В.А. и академика Шокина Ю.И. соответственно.

7. Комиссии представить Акт о проведении комплексной проверки Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук в Отделение нанотехнологий и информационных технологий РАН до 30 ян­варя 2013 г.

8. Контроль за выполнением пункта 2 настоящего распоряжения возложить на Отделение нанотехнологий и информационных технологий РАН.





И.о. президента
Российской академии наук
академик А.Д. Некипелов