http://93.174.130.82/news/shownews.aspx?id=d50a1664-32cc-4a3e-99a5-8e16d3f5a5f8&print=1
© 2024 Российская академия наук

Заседание Президиума Российской академии наук 21 января 2003 года

21.01.2003

На очередном заседании Президиума Российской академии наук 21 января 2003 года, с научным сообщением “Применение рентгеновской оптики в физике и электронике” выступили члены-корреспонденты РАН Сергей Викторович Гапонов и Николай Николаевич Салащенко (Институт физики микроструктур РАН, г. Н. Новгород).
Заседание Президиума Российской академии наук 21 января 2003 года
21 января 2003 года состоялось очередное заседание Президиума Российской академии наук. С научным сообщением “Применение рентгеновской оптики в физике и электронике” выступили члены-корреспонденты РАН Сергей Викторович Гапонов и Николай Николаевич Салащенко (Институт физики микроструктур РАН, г. Н. Новгород). Диапазон длин волн, в котором эффективно использование многослойных оптических элементов, простирается от экстремального ультрафиолетового излучения (l = 60 нм) до жесткого рентгеновского (l = 0,01 нм), (т.е., наиболее длинные волны в указанном диапазоне в 6000 раз превышают самые короткие). Соответственно, столь же велико количество явлений природы, физические проявления которых находятся в этой спектральной области. Длина волны излучения, эффективно взаимодействующего с многослойной структурой, и ее период связаны соотношением l = 2d*sina, где a это угол падения. Структуры представляют собой искусственные двумерные кристаллы из пленок нанометровой толщины. Помимо возможностей использования для управления излучением в зависимости от материалов слоев (диэлектрик, полупроводник, металл, сверхпроводник), они могут быть интересны и для других физических приложений. В наиболее коротковолновой части диапазона 0,01 – 0,02 нм рентгеновские зеркала позволяют фокусировать излучение синхротронов или рентгеновских трубок на исследуемые объекты или формировать параллельные пучки. В частности, их применение увеличивает эффективность рентгеновских трубок в 30 – 100 раз, что делает возможным заменить синхротронное излучение в ряде биологических, структурных и материаловедческих исследований. Приблизительно в этом же диапазоне лежит излучение высокотемпературной плазмы (лазерной и ТОКАМАКов). Здесь зеркала нашли применение как дисперсионные элементы для спектральных исследований. В диапазоне 0,6 – 6 нм лежит характеристическое излучение легких элементов от бора до фосфора. Здесь рентгеновские зеркала так же используются для исследования спектров в приборах элементного анализа материалов. Рентгеновская многослойная оптика широко используется для формирования, фильтрации и управления поляризацией в синхротронных источниках. В области 10 – 60 нм лежат линии излучения солнечной плазмы. Объективы космических телескопов из рентгеновских зеркал и сейчас находятся на орбите и регулярно передают на Землю изображение Солнца на линиях Fe IX – Fe XI (17,5 нм) и He II (30,4 нм). Особое место занимает применение многослойных зеркал в электронике. Мы являемся свидетелями и участниками крупнейшего события в твердотельной электронике: это переход на более чем в 10 раз короткую длину волны, от 157 нм к 13 нм в литографии – процессе, обеспечивающем получение рисунка полупроводниковых приборов и интегральных схем. Именно длина волны, используемая для получения рисунка, отвечает за размеры его минимальных элементов. До сих пор изменение длины волны излучения от поколения до поколения литографических установок не превышала 25%. С применением новых волн одновременно в 10 раз повышаются требования к точности изготовления всех элементов оптики и механизмам настройки и экспонирования. Фактически это означает переход всех обрабатывающих технологий на атомарную точность. Неучастие в этом процессе может оставить страну в прошлой цивилизации. Научное сообщение вызвало оживленное обсуждение. Члены президиума отметили высокий уровень доклада и большое значение как теоретических исследований, так и прикладных работ в этой области. Президент РАН Ю.С. Осипов с сожалением констатировал, что эти перспективные разработки не находят применения в российской промышленности. Президиум также постановил присудить премию имени С.В. Ковалевской 2003 года (в размере 30000 руб.) доктору физико-математических наук Серегину Григорию Александровичу (Санкт-Петербургское отделение Математического института им. В.А. Стеклова РАН) за цикл работ по трехмерным системам гидродинамики для вязких несжимаемых жидкостей. Президиум РАН принял постановление о ряде назначений и утвердил: в должности директора Института космических исследований РАН д.ф-м.н. Зеленого Льва Матвеевича; в должности директора Института проблем геотермии Дагестанского научного центра РАН к.т.н. Алхасова Алибека Басировича; в должности директоров институтов Отделения общественных наук РАН: Института психологии РАН – д.п.н. Журавлева Анатолия Лактионовича, Социологического института РАН – д.с.н. Тихонова Александра Васильевича; в должности директоров институтов Отделения информационных технологий и вычислительных систем РАН: Института оптико-нейронных технологий РАН – д.ф.-м.н. Крыжановского Бориса Владимировича, Института сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники РАН - чл.-к. РАН Мокерова Владимира Георгиевича, Института системного анализа РАН - чл-к.. РАН Попкова Юрия Соломоновича; в должности директора Института микробиологии РАН – чл-к.. РАН Гальченко Валерия Федоровича; в должности генерального директора Объединенного института физики Земли им. Г.А. Гамбурцева РАН – чл-к.. РАН Глико Александра Олеговича. Президиум РАН утвердил постановление о присуждении ученой степени доктора honoris causa профессору Свободного университета в Берлине Юргену Коке (Германия) и директору Института археологии НАН Украины академику НАН Украины Петру Петровичу Толочко. Президиум РАН постановил учредить премию РАН имени Д.С. Лихачева для российских и зарубежных ученых за выдающийся вклад в исследование литературы и культуры Древней Руси. Члены Президиума также обсудили и приняли решения по ряду других научно-организационных вопросов.
Присоединенные файлы Текст сообщения ( Сообщ6.doc 71.50 KB )